液晶面板表面缺陷及檢測(cè)應(yīng)用分析
薄膜顯晶體管液晶顯示器（TFT-LCD）具有高分辨率和功耗低等優(yōu)點(diǎn)，因此被廣泛應(yīng)用于顯示器行業(yè)。但是顯示屏的生產(chǎn)過程流程多、環(huán)境等因素，難以避免會(huì)出現(xiàn)缺陷顯示屏，導(dǎo)致產(chǎn)品不良率較高。TFT-LCD顯示屏的制作包括鍍膜、刻蝕、顯影、面板組合、灌晶封口和安裝驅(qū)動(dòng)芯片等工藝，復(fù)雜的工序?qū)е氯毕莸某霈F(xiàn)，常見的缺陷包括點(diǎn)缺陷，線缺陷和Mura缺陷。“Mura"一詞來源于日語，譯為斑點(diǎn)、臟污，也被稱為“云斑"，是顯示缺陷中最難檢測(cè)的缺陷之一。傳統(tǒng)的Mura檢測(cè)方法是通過人工視覺檢查的方式實(shí)現(xiàn)的，主要采用裸眼辨別的方法。此方法效率低下，并且容易造成視覺疲勞，從而導(dǎo)致結(jié)果正確率降低。基于機(jī)器視覺的液晶面板檢測(cè)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)液晶面板的各個(gè)生產(chǎn)工藝產(chǎn)生的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，包括Array（陣列）工藝，CF（彩膜）工藝，CELL（成盒）工藝，Module（模組）工藝，可實(shí)現(xiàn)對(duì)crack（裂紋），broken（破損），chip（崩邊），scratch（劃痕），burr（毛刺），drop（水滴）等缺陷的有效檢測(cè)區(qū)分。
日本sena鹵素表面檢查燈185le
日本sena lamp高照度鹵素強(qiáng)光燈185LE屏幕面板檢查燈
高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。
適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
